成都中冷低溫科技有限公司
詳細(xì)摘要： HAST高加速老化試驗箱，絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)HAST高加速老化，可高精度連續(xù)監(jiān)測。隨著電子設(shè)備在智能化的方向及小型化、輕量化發(fā)展，印制線路板的線路也越來越細(xì)。
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-24 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速老化測試箱，絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)HAST高加速老化，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測，快捷評估因離子...
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詳細(xì)摘要： Hirayama HAST高加速老化試驗箱維修，試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴...
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詳細(xì)摘要： 高加速老化試驗箱HAST，絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)HAST高加速老化，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測，快捷評估因離子...
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詳細(xì)摘要： Hirayama HAST高加速老化試驗箱 維修，試驗箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信...
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詳細(xì)摘要： PCB離子遷移測試HAST高加速老化試驗箱，PCB離子遷移，簡稱CAF。離子遷移是指在印刷電路板等產(chǎn)品上，由于離子化金屬向相反電極移動，在相對電極還原成原來的金...
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詳細(xì)摘要： CAF測試系統(tǒng) HAST高加速老化壽命試驗箱，CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品...
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詳細(xì)摘要： HAST模擬老化壽命加速試驗機，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的...
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詳細(xì)摘要： 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)HAST高加速老化,CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品接觸材...
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詳細(xì)摘要： 絕緣電阻劣化HAST高加速老化壽命試驗箱,CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品接觸...
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詳細(xì)摘要： HAST高加速老化 絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)，絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)HAST高加速老化，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測...
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詳細(xì)摘要： CAF絕緣電阻劣化HAST高加速老化壽命試驗箱,CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實驗方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食...
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詳細(xì)摘要： HAST 高壓加速老化試驗箱，絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)HAST高加速老化，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測，快捷評估因...
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詳細(xì)摘要： HAST高加速壽命偏壓老化試驗箱，絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)HAST高加速老化，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測，快捷評...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST 高低溫氣流沖擊系統(tǒng)，絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)HAST高加速老化，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測，快捷評估因...
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詳細(xì)摘要： HAST 高壓加速老化試驗箱 測試，絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)HAST高加速老化，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測，快捷...
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詳細(xì)摘要： 半導(dǎo)體芯片HAST測試，絕緣電阻劣化評估系統(tǒng)HAST高加速老化，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測，快捷評估因離子遷...
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